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1、扫描 SEM(扫描电子显微镜)(1)、扫描电子显微镜的工作原理:它是1965年发明的一种现代细胞生物学研究工具，主要利用二次电子信号成像来观察样品的表面形态，即利用极窄的电子束来/二次电子可以产生样品表面的放大形态图像，它是在样品扫描时按时间顺序建立的，即

当一束高能人体发射的电子轰击物质表面时，激发区域会产生二次电子、俄歇电子、特征X射线和连续光谱X射线、背散射电子、透射电子以及在可见光、紫外和红外区域产生的电磁辐射。同时也可以产生电子-空穴对、晶格振动(声子)和电子振荡(等离子体)。从原理上讲，通过电子与物质的相互作用，可以获得样品本身的各种物理化学性质的信息，如形貌、成分、晶体结构、电子结构、内部电场或磁场等。

扫描电镜只能观察到分散体或微观结构，无法测量成分。不能，只能看表面形貌和晶粒大小。这可以用来测量成分。牛津仪器的纳米分析部门推出了一个软件系统ThinFilmID，可以测量SEM中薄膜的成分和厚度。ThinFilmID用于通过EDS测量薄膜结构的成分和厚度。该技术是唯一基于SEM和EDS的薄膜分析系统。

SEM，EDS，XRD，SEM is扫描电镜，EDS is扫描电镜，是用于微区分析的附属能谱仪。能谱仪(EDS)用于分析材料微观区域的元素种类和含量，与扫描电子显微镜和透射电子显微镜配合使用。XRD是X射线衍射仪，是进行物相分析的测试设备。扫描扫描电子显微镜(SEM，图217、18、19)于20世纪60年代问世，用于观察标本的表面结构。

tem可测磁包括制样，sem可测磁包括注金制样，afm平行测量三个位置，xrd不限制元素，tgdsc最高温度达到1600度。[扫描资讯测试资讯]红外光谱属于分子振动转动光谱，是分子吸收红外光时振动能级和转动能级跃迁产生的分子吸收光谱。它的光谱仪记录红外光的透过率与其波长或波数的关系曲线，得到红外光谱，然后对光谱进行分析，得到分子结构的信息。

如果有需要，可以关注通材料分析研究中心。各个部门各司其职，仪器技术部负责检测前的样品制备，旨在研究样品制备方法，为用户提供更高效准确的样品制备方法。应用技术部负责日常测试工作，研究测试方案和结果，优化测量参数，提供更高质量的测量结果。软件技术部负责积累大量测试数据，编制软件，为微观测试结果的数字化创造新思路。

SEM，全称扫描电子显微镜，又称扫描 电镜，英文名scanning electron microscope。TEM，全称透射电子显微镜，又称transmission-1。英文名是TransmissionElectronMicroscope。区别:SEM样品中的激发二次电子和背散射电子被收集并成像。TEM可以表征样品的厚度对比和样品的内部晶格结构。

SEM样品的要求并不严格，但TEM样品的观察部分必须减薄到100nm以下的厚度，一般做成直径3mm的片，然后进行离子减薄或双喷(或要求20~40μm以下的薄区)。TEM可以标定晶格常数，从而确定相结构；SEM主要可以标定某个地方的元素含量，但不能准确确定结构。

电镜辐射源主要来自电子枪发射的电子束以及电子束在样品表面激发的各种信号。然而，电子束的直径只有纳米到10纳米的数量级，因此产生的辐射很少。同时，电镜电子枪有很大的铅块吸收辐射，样品室采用非常厚的金属材料，所以对于电镜整体来说几乎没有外辐射。SEM 扫描 电镜的电子束辐射相对较小，其最大辐射强度仅为太阳辐射的0.3%左右。

但是这些辐射有一定的控制范围，所以不会对使用SEM的人员造成任何伤害。[产品详情点击]相比之下，SEM 扫描 电镜的X射线辐射可能对使用SEM的人和周围环境造成潜在的危害。当SEM电子束与样品表面相互作用时，会产生一些能量超过30keV的电子，这些电子可能会激发样品内部的原子产生X射线。这些X射线的能量范围可能达到几百keV，因此有可能穿透样品，对周围环境造成危害。

1。放大倍数:与普通光学显微镜不同，在SEM中，通过控制扫描 area的大小来控制放大倍数。如果需要更高的放大倍数，只需要扫描更小的面积。放大倍数是通过将屏幕/照片面积除以扫描面积获得的。所以在SEM中，镜头与放大倍数无关。2.景深:在SEM中，位于焦平面上方和下方的小区域中的样本点可以以良好的聚焦成像。这一小层的厚度称为景深，通常有几个纳米厚，所以可以用SEM对纳米级的样品进行三维成像。

4.工作距离:工作距离是指物镜到样品最高点的垂直距离。如果工作距离增加，在其他条件相同的情况下，可以获得更大的景深。如果减小工作距离，在其他条件相同的情况下，可以获得更高的分辨率。通常使用的工作距离在5毫米和10毫米之间。成像:可以用二次电子和背散射电子成像，但后者不如前者，所以通常用二次电子。

扫描电镜Yes扫描简称扫描电镜(SEM)。它是一种电子显微镜，使用聚焦的电子束/样品的表面来产生样品表面的图像。扫描 电镜用聚焦电子束光栅化样品表面扫描(每条线从左到右扫描，然后向下重复，再重复一帧，直到完成一幅图像)，收集到的电子与样品相互作用产生的信号在显示器上同步。

好像一只蚂蚁在一点一点的探索它爪子下的世界。它将各个坐标点的高度信息上报给计算机，监视器绘制出放大的地形图，让我们看到蚂蚁眼中的微观世界。光学显微镜是一个大家族，包括透射光学显微镜(对于透明样品，透射照明)和金相显微镜(对于不透明样品，反射照明)。

扫描电子显微镜(SEM)是1965年后迅速发展起来的一种新型电子仪器。其主要特点可以概括为:①仪器的高分辨率；②仪器的放大范围大，一般可达15 ~倍，并可在此范围内连续调节；③图像景深大，富有立体感；(4)样品制备简单，不会破坏样品；⑤在扫描电镜上安装必要的专用附件能谱仪(EDX ),实现一机多用。在观察形态图像的同时，还可以分析样品微区的成分。

图1321是其前两部分的示意框图。光电部分只有聚焦透镜，它们的功能由信号接收、处理和显示系统完成，图1321SEM的SEM基本结构图In 扫描 电镜，电子枪发出的电子束经三个电磁透镜聚焦形成直径为20μ m ~ 25的电子束。放置在末级透镜上部的扫描线圈可以使样品表面的电子束光栅扫描，在电子束的作用下，样品激发出各种信号，信号的强度取决于样品的表面形貌、激发区的成分和晶体取向。